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上海冉繪平臺式平片光譜測試儀

產品概述上海冉繪平片光譜測試儀，適用于薄膜、透鏡、啤酒瓶、平板、手機攝像頭、建筑玻璃、觸屏行業、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等測試。
分類：光譜分析
次數：次
日期：2022/8/26
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產品概述

上海冉繪平片光譜測試儀，適用于薄膜、透鏡、啤酒瓶、平板、手機攝像頭、建筑玻璃、觸屏行業、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等測試。

產品特點

本產品是新—代平臺式平片光譜測試儀，具有先進的操作系統、優越的產品技術指標，可不要任何夾具.觸屏一鍵出圖.。可單層、多層窗玻璃構件光學性能的測定。本產品采用全新設計，樣品尺寸比傳統測試儀更具優勢，規格可從 φ1.5mm -500*500mm均可測試，采用智能化系統.開機自校，觸摸屏+PC端雙模操作端更方便

技術參數

雙模操作+PC端（光譜分析家軟件）
光學系統	1600條/衍射光柵，增強型比例監測
狹縫帶寬	0.5/1.0/1.8/3.8
波長范圍	190—1100 nm,波長分辨率0.1 nm
數據顯示	智能觸摸屏8 英寸，藍牙、無線網、PDF、U盤、EXCEL、Email
波長精度	±0.1nm（@656.1nmD2,±0.3nm(全波長范圍)）重復性≤0.15nm
雜散光	≤0.02%T(220nm Nal;360nm NaNO2)
光度范圍	0-200%T，-0.301-4.0A，-9999-9999C
光度精度	±0.002A(0-0.5A), ±0.3%T(0-100%T)
光度重復性	±0.001A(0-0.5A), ±0.15%T(0-100%T)
基線平直度	±0.0015A；基線漂移±0.0015A/h
光度噪聲	±0.001A(500nm,0A,2nm 光譜帶寬)
波長邊緣噪聲	透射比為 0%噪聲：≤0.2%; 透射比為 100%噪聲：≤0.3%
儀器體積重量	560370330mm ；重量15公斤

上一個：上海冉繪單目阿貝折射儀上一個：上海冉繪磁力攪拌浴

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上海冉繪平臺式平片光譜測試儀

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